FNIRSI LCR-P1 트랜지스터·MOSFET·커패시터 테스터 SMD 전자 부품 테스터
자동 부품 식별기 및 테스터. 반도체나 수동 부품을 삽입하면 LCR-P1이 종류, 핀배치, 파라미터를 알려줍니다—데이터시트가 필요 없습니다. 트랜지스터(NPN/PNP, hFE), MOSFET(Vth, RDSon), JFET, 다이오드, 제너 다이오드, 커패시터(25pF–100mF), 저항, 인덕터, IR 리모컨을 테스트합니다. Kunkune 12개월 보증 제공.






Category: FNIRSI Oscilloscopes
FNIRSI LCR-P1 자동 부품 식별 테스터
FNIRSI LCR-P1는 영국의 전자제품 애호가, 수리 기술자, 학생들이 표시되지 않거나 알 수 없는 전자 부품을 신속하게 식별하고 핀 맵을 확인하며 측정할 수 있도록 설계된 자동 부품 및 MOSFET 테스터입니다. ZIF 소켓에 부품을 삽입하고 테스트 버튼을 누르면 LCR-P1가 부품의 종류, 각 핀의 역할, 주요 매개변수를 알려줍니다. 데이터시트도, 추측도 필요 없습니다. 트랜지스터(NPN/PNP/BJT), MOSFET, JFET, 다이오드, 제너 다이오드, 커패시터, 저항, 인덕터, 사이리스터, 트라이액, LED, 배터리를 단일 장치로 테스트합니다.
- 부품 유형 및 핀 배열 자동 식별 — 알 수 없는 부품을 삽입하면 유형과 핀 할당을 즉시 확인
- NPN/PNP 트랜지스터 테스트 — 유형, 핀 배치 식별 및 hFE 이득 측정 (범위 10–600)
- N/P 채널 MOSFET 테스트 — 핀 배치, 문턱 전압 및 RDSon
- 정전 용량 측정 25pF–100mF — SMD 세라믹부터 대형 전해 콘덴서까지 커버
- 제너 다이오드 채널 — 전용 사전 측정 전원 공급 장치로 0.01–32V 측정
- 적외선 NEC 프로토콜 디코더 — 원격 제어 IR 신호 테스트 및 디코딩
- 번짐 방지 보호 — 테스트 전 삽입 시 커패시터 자동 방전
- 12개월 Kunkune 보증 — 정상 사용 중 고장 시 보장
| 사양 | 값 |
|---|---|
| 트랜지스터 hFE 범위 | 10–600 |
| 커패시턴스 범위 | 25pF – 100mF |
| 인덕턴스 범위 | 10μH – 1000μH |
| 저항 범위 | 0.01Ω – 50MΩ |
| 제너 다이오드 범위 | 0.01V – 32V |
| 디스플레이 | 1.44인치 컬러 화면 |
| 배터리 | 300mAh 리튬 배터리, USB-C 충전 |
| 작동 온도 | 0–40°C |
| 치수 | 71 × 87 × 28 mm |
LCR-P1는 어떤 구성 요소를 자동으로 식별합니까?
LCR-P1 는 NPN 및 PNP 바이폴라 트랜지스터(hFE, 핀 배치), N채널 및 P채널 MOSFET(핀 배치, Vth, RDSon), JFET, BJT, 사이리스터(SCR), 트라이액, 표준 다이오드, 제너 다이오드(최대 32V), LED(순방향 전압 포함), 저항기(0.01Ω–50MΩ), 커패시터(25pF–100mF), 인덕터(10μH–1000μH) 및 배터리를 자동으로 식별하고 측정합니다. 부품을 삽입하면 수동 모드 선택 없이 분류 및 측정됩니다.

트랜지스터 및 MOSFET 식별 정확도는 얼마나 되나요?
LCR-P1는 대부분의 표준 NPN 및 PNP 소자에서 트랜지스터 유형, 베이스/컬렉터/에미터 핀 배치 및 hFE를 안정적으로 식별합니다. MOSFET 게이트/드레인/소스 식별 및 임계 전압 측정은 일반적인 인핸스먼트 모드 부품에서 잘 작동합니다. 솔직한 주의 사항: 특성이 비정상적인 일부 BJT에서는 컬렉터-에미터 핀 할당이 가끔 잘못 읽힐 수 있습니다. 중요한 부품을 납땜하기 전에 항상 데이터시트로 핀 배치를 교차 확인하세요. 정밀한 다중 주파수 수동 측정을 위해서는 FNIRSI LCR-ST2가 적합한 보완 제품입니다.
적외선 테스트 기능이란 무엇인가요?
LCR-P1에는 TV 리모컨, 셋톱박스 및 소비자 가전에서 가장 일반적인 IR 표준인 NEC 프로토콜을 지원하는 전용 적외선 디코더가 포함되어 있습니다. 리모컨을 IR 센서에 향하게 하면 LCR-P1이 디코딩된 주소 및 명령 코드를 실시간으로 표시합니다. 리모컨 디버깅, 복제 프로젝트 및 회로 테스트 중 IR 이미터 출력 확인에 유용합니다.

안티번 보호란 무엇이며 왜 중요한가요?
보호 기능 없이 충전된 커패시터를 테스터에 삽입하면 측정 회로가 즉시 파괴될 수 있습니다. LCR-P1은 테스트 전압을 인가하기 전에 안전한 저항 경로를 통해 커패시터를 감지하고 자동으로 방전합니다. 이는 삽입 시 수동으로 작동하므로 테스트 전에 부품을 수동으로 방전할 필요가 없습니다. 교체 가능한 테스트 보드를 사용하면 ZIF 소켓이 손상된 경우 전체 장치를 교체하는 대신 소켓만 교체할 수 있습니다.
LCR-P1와 LCR-ST2의 차이점은 무엇인가요?
LCR-P1는 부품 식별자 — 표시되지 않은 부품이 무엇인지, 핀이 무엇인지 알려주고, 능동 반도체(트랜지스터, MOSFET, 다이오드)를 포함한 다양한 부품 유형에 걸쳐 기본 매개변수를 제공합니다. LCR-ST2는 정밀 LCR 브리지 — 켈빈 클립 정밀도로 5가지 선택 가능한 주파수에서 수동 부품(R, C, L, ESR)을 측정합니다. 각각 다른 목적으로 사용됩니다: LCR-P1는 미지 부품 식별 및 반도체 테스트용, LCR-ST2는 수동 부품의 정밀 특성 분석용입니다.
최적 용도
회수 보드에서 표시되지 않거나 제거된 트랜지스터, MOSFET, 다이오드 식별, 납땜 전 부품 핀 배치 확인, 매칭 페어 회로용 트랜지스터의 hFE 이득 점검, 라벨 없는 릴의 커패시터 값 테스트, 제너 항복 전압 측정, 리모컨 IR 회로 디버깅, 학교 및 대학 전자 실험실, 취미인을 위한 부품 분류 및 재고 확인, 데이터시트 없는 중국 보드에서 미확인 반도체를 식별하는 수리점. FNIRSI DSO-152 Plus와 함께 사용하여 수동 및 신호 테스트를 완벽하게 커버합니다.

박스 구성품
- FNIRSI LCR-P1 부품 테스터
- 교체 가능한 테스트 보드 ×1
- 테스트 후크 ×3
- USB-C 데이터 및 충전 케이블
- 사용자 매뉴얼
Kunkune을 선택해야 하는 이유
옥스퍼드셔 창고에서 Royal Mail을 통해 배송, 1–2일 배송. 모든 FNIRSI 제품에 12개월 보증. 60일 이내 반품 가능. 번거로움 없음.
자주 묻는 질문 — FNIRSI LCR-P1
LCR-P1로 SMD 부품을 테스트할 수 있나요?
네, 포함된 테스트 후크를 사용하면 됩니다. 후크를 SMD 부품 패드에 클립하면 LCR-P1가 회로 내 또는 브레이크아웃 보드에서 부품을 측정합니다. ZIF 소켓은 스루홀 및 리드 부품을 처리하고, 후크는 SMD를 처리합니다. 전용 SMD 핀셋 테스트에는 FNIRSI LCR-ST2가 더 적합합니다.
LCR-P1는 표시가 전혀 없는 부품을 식별할 수 있나요?
네, 그것이 주요 목적입니다. 부품을 ZIF 소켓에 삽입하고 테스트를 누르면 LCR-P1가 전기적 특성을 분석하여 부품 유형, 핀 할당 및 측정된 매개변수를 반환합니다. 대부분의 표준 트랜지스터, MOSFET, 다이오드 및 수동 부품에서 작동합니다. 일부 특이하거나 매우 고전력인 장치는 인식되지 않을 수 있습니다.
LCR-P1는 커패시터의 ESR을 측정하나요?
아니요, LCR-P1는 커패시턴스 값을 측정하지만 ESR(등가 직렬 저항)은 측정하지 않습니다. 전해 커패시터의 ESR 테스트에는 여러 주파수에서 D/Q/Z 매개변수와 함께 ESR 측정을 포함하는 FNIRSI LCR-ST2를 사용하세요.
LCR-P1는 어떤 배터리를 사용하나요?
내장형 300mAh 리튬 셀이 USB-C를 통해 5V/1A로 충전됩니다. 배터리는 사용자가 분리할 수 없습니다. 완전 방전 상태에서 충전 시간은 약 1–1.5시간입니다.
LCR-P1는 고전압 MOSFET을 테스트할 수 있나요?
LCR-P1는 낮은 테스트 전압을 인가하여 부품을 안전하게 식별합니다. 일반적인 로직 및 신호 레벨까지 대부분의 인핸스먼트 모드 MOSFET을 식별합니다. 매우 높은 전압 또는 고전류 전력 MOSFET은 전체 특성화를 위해 전용 커브 트레이서로 검증이 필요할 수 있지만, 핀 배치와 임계 전압은 일반적으로 올바르게 식별됩니다.
테스트 보드는 정말 교체 가능한가요?
네 — ZIF 테스트 소켓 보드는 LCR-P1에 장착되는 별도 모듈입니다. 소켓이 마모되거나 (보호 기능에도 불구하고 충전된 커패시터 삽입 등으로) 손상된 경우, 전체 장치 대신 테스트 보드만 교체할 수 있습니다. 교체용 테스트 보드는 별도로 판매됩니다.
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